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半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法

發布時間:2022-08-08人氣:

  以往激光生産線上,在線調試依靠的(de)主要工具是功率計,根據激光功率來判斷光斑尺寸的(de)調試結果以及光束質量的(de)好壞。但功率計隻有功率的(de)讀數,無法直觀的(de)反應光束随調試的(de)變化,調試工作費時費力,并且很難保證調試的(de)一(yī)緻性。

  為(wèi)了提高(gāo)激光器産線的(de)生産效率,德國著名的(de)光束分析儀廠商CINOGY公司為(wèi)激光生産線調試專門設計了一(yī)款低(dī)價位、小體積、簡單實用的(de)在線激光調試專用的(de)光束分析儀--CinAlign。借助CinAlign在線激光調試專用的(de)光束分析儀,調試人員能同時直觀定量的(de)監控功率及光斑的(de)變化,從而成倍縮短(duǎn)激光調試時間,并且還能極大的(de)提高(gāo)激光器的(de)一(yī)緻性!

  另外,由于CinAlign在線調試光束分析儀的(de)價格低(dī)至1.5萬人民币,可(kě)以大大降低(dī)激光器生産商的(de)成本,這也是為(wèi)什麽CinAlign在線調試光束分析儀可(kě)以被批量的(de)用于生産線上的(de)原因之一(yī)。

  本文将根據激光生産線中需要調試的(de)激光參數(光斑尺寸、功率、能量分布、發散角等),配上軟件截圖詳細介紹CinAlign在線調試光束分析儀關于激光光束的(de)調試方法。

  一(yī)、“CinAlign在線調試光束分析儀”可(kě)以确保每次調試的(de)準确性和(hé)一(yī)緻性:

  1)實時監控光斑尺寸

  CinAlign在線調試調試光束分析儀軟件RayCi可(kě)以實時監控光斑的(de)尺寸,我們可(kě)以直觀定量的(de)知道(dào)激光的(de)光斑尺寸。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖1)

  2)光斑尺寸pass/fail設置

  RayCi分析軟件支持光斑尺寸pass/fail設置,例如(rú),我們在調試時需要把光斑尺寸(X方向)控制在300um~350um之間(即合格品)。那我們可(kě)以在軟件上設置X方向的(de)光斑大小在300um~350um即pass(軟件會把光斑尺寸标注成綠色),當X方向光斑大小不在300~350um之間時即fail(軟件會标注成紅(hóng)色)。所以,當産線人員在調試時,可(kě)以隻看光斑顔色的(de)變化就可(kě)以。操作非常簡單,産線人員非常容易上手,且可(kě)以大大節省調試時間。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖2)

  3)RayCi軟件可(kě)以提供多達10種光斑尺寸算法,基本可(kě)以完全滿足所有客戶應用的(de)算法要求。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖3)

  二、實時監控激光的(de)功率:

  1)實時監控激光功率。該功能不僅可(kě)以取代功率計,在調試時,用戶可(kě)以同時監控激光功率和(hé)光斑尺寸。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖4)

  2)給出功率等高(gāo)線,根據功率計算光斑的(de)尺寸

  部分應用中客戶需要知道(dào)不同功率下的(de)光斑尺寸,傳統的(de)使用功率計的(de)調試方法是無法實現該應用的(de),但是CinAlign在線調試光束分析儀可(kě)以解決該難題。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖5)

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖6)


三、實時監控光束輪廓的(de)變化,以及光束的(de)橢圓度(圓度),用于光束整形:

  在對光束進行整形時,使用CinAlign在線調試光束分析儀,用戶可(kě)以非常直觀的(de)看到光束的(de)輪廓以及橢圓度,這樣就可(kě)以非常容易調試到所需要的(de)形狀和(hé)大小。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖7)

  四、實時監控光束重心位置的(de)變化(即重心的(de)坐标系),可(kě)以用于激光準直調試、或者相對位置的(de)調試:

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖8)

  五、實時監控光束的(de)二維、三維能量分布:

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖9)

  六、測量近場、原廠發散角:

  1)近場發散角測量

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖10)

  Df為(wèi)焦平面處的(de)光斑直徑,f為(wèi)焦距。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖11)

  2)遠場發散角測量

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖12)

  D1,D2為(wèi)不同位置的(de)光斑直徑,L為(wèi)兩個測量位置間的(de)距離(lí)。

半導體激光器光斑在線調試的(de)高(gāo)效方法(圖13)


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